(资料图)

1、 椭偏仪，是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量设备。

2、由于并不与样品接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量设备。